深圳市南山区西丽街道阳光工业区沙坑上段莱玮斯工业厂房2楼201室 
膜厚测量是半导体、液晶显示、光学镀膜等高端制造领域的核心质控环节，精准的膜厚数据直接影响产品的光学性能、耐用性及良率。广州景颐光电科技有限公司作为行业内专业的膜厚测试仪制造商，依托光干涉原理与高精度算法，为客户提供非接触式、无损的膜厚检测解决方案，覆盖从研发到量产的全流程需求。
广州景颐光电科技有限公司专注于光学检测设备的研发与生产，核心团队来自国内知名光学研究所，具备十余年行业经验。公司致力于将先进的光学技术转化为实用型检测工具，产品涵盖膜厚仪、光谱仪、色差仪等多个品类，大范围的应用于电子、光伏、医疗等领域。
景颐光电的膜厚测试仪系列（如FILMTHICK-C10、CHT-C200）采用光干涉原理，通过一系列分析样品表面的反射光干涉条纹，实现对薄膜厚度的精准测量。设备集成进口卤钨灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围，其中CHT-C200型号的光源常规使用的寿命可达50000小时，大幅度降低了经常使用成本。
测量过程中，设备可同步检测反射率、颜色、膜厚等多维度参数，配合OPTICAFILMTEST光学膜厚检测软件，支持FFT傅里叶法、极值法、拟合法三种高精度算法。软件内置类型丰富的材料折射率数据库，并开放用户自定义权限，方便客户根据不同样品材质调整检测模型。检测期间，系统实时显示干涉波形、FFT波谱及膜厚趋势曲线，帮助工程师快速定位异常。
该系列膜厚测试仪适用于半导体薄膜（如硅晶圆涂层）、液晶显示面板（如ITO膜）、光学镀膜（如增透膜）及生物医学材料（如人工角膜薄膜）等场景。以某液晶显示厂商为例，使用景颐膜厚仪后，其膜厚测量误差从±3%降至±1%，良率提升了12%，生产效率提高了18%。
景颐光电的膜厚测试仪通过了ISO 9001质量管理体系认证，部分型号符合CE（欧洲市场）及FCC（美国市场）标准，确定保证产品在全世界内的兼容性与可靠性。
膜厚测试仪的测量方式是什么？答：采用非接触式、无损害地进行检测方式，通过光干涉原理分析反射光条纹，不会对样品表面造成损伤。
软件支持哪些数据输出格式？答：支持CSV、Excel及PDF格式输出，方便与企业ERP系统对接。
设备的测量范围是多少？答：不相同的型号测量范围不同，FILMTHICK-C10可测10nm-20μm，CHT-C200可扩展至50μm
是否提供校准服务？答：景颐光电提供年度校准服务，并支持客户送样到厂或工程师上门校准。
针对特别的材料（如透明薄膜）有解决方案吗？答：软件内置透明材料测量模型，通过调整光源波长与算法参数，可实现对透明薄膜的精准测量。
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